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產(chǎn)品名稱：雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：TC-RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀型號(hào)：TC-RTS-9采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次...

產(chǎn)品名稱：四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀（接電腦）產(chǎn)品型號(hào)：GR-RTS-4四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀（接電腦）型號(hào)：GR-RTS-4（SDY-4替代）GR-RTS-4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)...

產(chǎn)品名稱：四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀（不能接電腦）產(chǎn)品型號(hào)：QT-RTS-4（SDY-4替代）四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀（不能接電腦）型號(hào)：QT-RTS-4（SDY-4替代）QT-RTS-4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭...

產(chǎn)品名稱：四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀（接電腦，含自動(dòng)測(cè)試臺(tái)）產(chǎn)品型號(hào)：ST-RTS-4四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀（接電腦，含自動(dòng)測(cè)試臺(tái)）型號(hào)：ST-RTS-4（SDY-4替代）ST-RTS-4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探...

產(chǎn)品名稱：四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/方阻測(cè)試儀/方阻儀/四探針電阻率測(cè)定儀（自動(dòng)測(cè)試臺(tái)+帶軟件）產(chǎn)品型號(hào)：TR-KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/方阻測(cè)試儀/方阻儀/四探針電阻率測(cè)定儀（自動(dòng)測(cè)試臺(tái)+帶軟件）型號(hào)：TR-KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。本...

產(chǎn)品名稱：四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：RTY-WSP-22四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/型號(hào)：RTY-WSP-22一、產(chǎn)品介紹硅料分選檢驗(yàn)綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗(yàn)、檢測(cè)而設(shè)計(jì)的。它可以快速準(zhǔn)確測(cè)量硅料的電阻率?？梢詸z測(cè)所有類型的硅料：母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測(cè)可以到0.0001-999.99Ω·㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。二、產(chǎn)品特...

產(chǎn)品名稱：四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：RTY-WSP-25四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/電阻率測(cè)試儀型號(hào)：RTY-WSP-25硅料分選檢驗(yàn)綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗(yàn)、檢測(cè)而設(shè)計(jì)的。它可以快速準(zhǔn)確測(cè)量硅料的電阻率。可以檢測(cè)所有類型的硅料：母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測(cè)可以到0.0001-0.0999Ω﹡㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。產(chǎn)品特點(diǎn)：...

產(chǎn)品名稱：半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：TDW-6半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率分析儀型號(hào)：TDW-6TDW-6型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測(cè)定的設(shè)備,測(cè)定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產(chǎn)廠家硅料分選測(cè)試的理想工具。1、主要技術(shù)指標(biāo):電源：220V交流可測(cè)晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0....

產(chǎn)品名稱：粉塵粒度分析儀/粉塵粒度儀（只測(cè)粒度）產(chǎn)品型號(hào)：ZJ/MD-1粉塵粒度分析儀/粉塵粒度儀型號(hào):ZJ/MD-1采用斯托克斯原理和比爾定律測(cè)定粉塵粒度分布（分散度）。與常規(guī)方法相比省去天平稱重和顯微鏡數(shù)數(shù)等繁雜工作。讀數(shù)直觀，測(cè)定結(jié)果自動(dòng)儲(chǔ)存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結(jié)果通過(guò)顯示屏或打印機(jī)輸出。儀器具有掉電保護(hù)功能，可儲(chǔ)存40次粒度分布數(shù)據(jù)，儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)可根據(jù)用戶意圖進(jìn)行清除。是粉塵實(shí)驗(yàn)室使用的理想儀器。ZJ/MD-1粉塵粒度分析儀主要技術(shù)指標(biāo)：粉塵粒度分布測(cè)定范圍：0...

產(chǎn)品名稱：密實(shí)度測(cè)試儀/無(wú)核密度計(jì)產(chǎn)品型號(hào)：RHJ-MD-1（只測(cè)壓實(shí)度）密實(shí)度測(cè)試儀/無(wú)核密度計(jì)型號(hào)：RHJ-MD-1用途：本套檢測(cè)系統(tǒng)可以對(duì)各種公路、鐵路、機(jī)場(chǎng)等土壤、砂石、瀝青路面的密實(shí)度進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量時(shí)間僅需5到10秒。原理：通過(guò)振動(dòng)檢測(cè)筒產(chǎn)生的振動(dòng)頻率和對(duì)地面的激振力（被控制在恒定值）產(chǎn)生反彈力。由于被側(cè)地面的密實(shí)度不同，那么反彈上的力也不同，在土壤含水量一定時(shí)密實(shí)度越大，反彈上來(lái)的力越大，密實(shí)度越小反彈力就越小。通過(guò)安裝在振動(dòng)檢測(cè)筒里傳感器收集信號(hào)并送給處理器進(jìn)行...